Компании Agilent Technologies Inc. (NYSE: A), Cascade Microtech и Maury Microwaves приглашают на семинар «Комплексное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току и в СВЧ-диапазонах с помощью измерительного оборудования Agilent Technologies, зондовых станций Cascade Microtech и импедансных тюнеров Maury Microwave».

Семинар пройдет в Москве, 26 июня 2013 г. эксперты Agilent Technologies познакомят слушателей с новейшими контрольно-измерительными технологиями для измерения в СВЧ- и мм-диапазоне и 27 июня – с решениями для измерений по постоянному току (до 10кВ/1500А).

В семинаре примет участие директор департамента параметрического тестирования компании Agilent Masaki Yamamoto, технические специалисты высочайшего класса компаний Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwave.

Для успешной разработки современных микроэлектронных устройств требуется качественное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току, а также в СВЧ- и миллиметровом диапазоне, которое в большинстве случаев выполняется на полупроводниковых пластинах. Компания Agilent Technologies совместно с компанией Cascade Microtech и Maury Microwave предлагают функционально законченные решения, которые включают в себя параметрические анализаторы, анализаторы цепей и САПР компании Agilent Technologies, зондовые станции компании Cascade Microtech и импедансные тюнеры компании Maury Microwave.

Во многих крупных организациях и исследовательских институтах России уже на протяжении многих лет успешно используются параметрические анализаторы Agilent B1500A и B1505A, которые под управлением графической среды пользователя Agilent EasyExpert становятся мощным центром для проведения измерений вольт-амперных (ВАХ) и вольт-фарадных (ВФХ) характеристик в непрерывном или импульсном режиме. Многие подобные измерения проводятся на полупроводниковых пластинах.

В ассортименте компании также есть серия экономичных источников/измерителей Agilent B2900A для тестирования полупроводниковых приборов в диапазоне до 210В и 3А (10А в импульсном режиме). Недавно компания расширила эту серию и представила революционно новое поколение источников/измерителей Agilent B2960A, которые обеспечивают лучшее в своем классе разрешение, широкий диапазон выходных биполярных сигналов, а также исключительно низкий уровень фазовых шумов, что важно при разработке ГУН, АЦП/ЦАП и т.д.

Для измерений в области СВЧ/миллиметрового диапазона, в частности, измерения S-параметров в непрерывном или импульсном режиме, коэффициента шума, компрессии коэффициента усиления, интермодуляционных и гармонических искажений, а также анализа цепей в нелинейном режиме и измерения X-параметров и многих других измерений, Agilent предлагает уникальный по своим возможностям векторный анализатор цепей серии Agilent PNA-X с частотным диапазоном до 67 ГГц.

Для тестирования полупроводниковых приборов с импедансом, отличным от 50 Ом, измерения параметров шума, анализа цепей в нелинейном режиме, импульсных IV измерений и задач типа «load pull», компания Maury Microwaves предлагает импедансные тюнеры с ручным или автоматическим управлением, программное обеспечение «active load pull» для Agilent PNA-X (без использования механических импедансных тюнеров), а также специальное решение от Maury Microwaves, которое позволяет проводить синхронизированные импульсные IV/RF измерения.

Доклады, представленные на семинаре, будут посвящены новым решениям Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwave в области тестирования полупроводниковых устройств.

Программа семинаров

День 1. 26 июня 2013

  • Измерения в СВЧ- и мм-диапазоне
  • Моделирование вольт-амперных характеристик СВЧ-транзисторов в импульсном режиме
  • Измерения характеристик устройств с переменным импедансом источника и нагрузки
  • Теория и практика измерений Х-параметров
  • Проектирование усилителя в САПР Advanced Design System на основе измеренных данных и модели
  • Анализ устойчивости систем
  • Измерение шумовых параметров

День 2. 27 июня 2013

  • Измерения по постоянному току (до 10кВ/1500А)
  • Обзор решений Agilent Technologies для параметрического тестирования
  • Расширение возможностей Agilent EasyExpert (версия 5.5), экспорт данных в .mdm формат
  • Новые измерительные возможности B1500A
  • Расширение измерительных возможностей B1505A до 10кВ/1500А (тестирование IGBT, SiC, GaN)
  • Новая серия источников/измерителей с ультранизкими фазовыми шумами Agilent B2960A
  • Новые возможности системы Agilent 4080 для тестирования на производстве
  • Новые возможности IV-/CV-измерений на пластине с помощью зондовых станций

Для участия в семинаре необходимо зарегистрироваться. Подробная информация на сайте  или по телефону +7 (495) 797-39-28.

Контактная информация

141006, Московская обл., г.Мытищи, ул.Комарова, д.13

E-mail: soyuz-metrologov@mail.ru

Телефон/факс: (495) 586-23-88

Подробнее...