Компании Agilent Technologies Inc. (NYSE: A), Cascade Microtech и Maury Microwaves приглашают на семинар «Комплексное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току и в СВЧ-диапазонах с помощью измерительного оборудования Agilent Technologies, зондовых станций Cascade Microtech и импедансных тюнеров Maury Microwave».
Семинар пройдет в Москве, 26 июня 2013 г. эксперты Agilent Technologies познакомят слушателей с новейшими контрольно-измерительными технологиями для измерения в СВЧ- и мм-диапазоне и 27 июня – с решениями для измерений по постоянному току (до 10кВ/1500А).
В семинаре примет участие директор департамента параметрического тестирования компании Agilent Masaki Yamamoto, технические специалисты высочайшего класса компаний Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwave.
Для успешной разработки современных микроэлектронных устройств требуется качественное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току, а также в СВЧ- и миллиметровом диапазоне, которое в большинстве случаев выполняется на полупроводниковых пластинах. Компания Agilent Technologies совместно с компанией Cascade Microtech и Maury Microwave предлагают функционально законченные решения, которые включают в себя параметрические анализаторы, анализаторы цепей и САПР компании Agilent Technologies, зондовые станции компании Cascade Microtech и импедансные тюнеры компании Maury Microwave.
Во многих крупных организациях и исследовательских институтах России уже на протяжении многих лет успешно используются параметрические анализаторы Agilent B1500A и B1505A, которые под управлением графической среды пользователя Agilent EasyExpert становятся мощным центром для проведения измерений вольт-амперных (ВАХ) и вольт-фарадных (ВФХ) характеристик в непрерывном или импульсном режиме. Многие подобные измерения проводятся на полупроводниковых пластинах.
В ассортименте компании также есть серия экономичных источников/измерителей Agilent B2900A для тестирования полупроводниковых приборов в диапазоне до 210В и 3А (10А в импульсном режиме). Недавно компания расширила эту серию и представила революционно новое поколение источников/измерителей Agilent B2960A, которые обеспечивают лучшее в своем классе разрешение, широкий диапазон выходных биполярных сигналов, а также исключительно низкий уровень фазовых шумов, что важно при разработке ГУН, АЦП/ЦАП и т.д.
Для измерений в области СВЧ/миллиметрового диапазона, в частности, измерения S-параметров в непрерывном или импульсном режиме, коэффициента шума, компрессии коэффициента усиления, интермодуляционных и гармонических искажений, а также анализа цепей в нелинейном режиме и измерения X-параметров и многих других измерений, Agilent предлагает уникальный по своим возможностям векторный анализатор цепей серии Agilent PNA-X с частотным диапазоном до 67 ГГц.
Для тестирования полупроводниковых приборов с импедансом, отличным от 50 Ом, измерения параметров шума, анализа цепей в нелинейном режиме, импульсных IV измерений и задач типа «load pull», компания Maury Microwaves предлагает импедансные тюнеры с ручным или автоматическим управлением, программное обеспечение «active load pull» для Agilent PNA-X (без использования механических импедансных тюнеров), а также специальное решение от Maury Microwaves, которое позволяет проводить синхронизированные импульсные IV/RF измерения.
Доклады, представленные на семинаре, будут посвящены новым решениям Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwave в области тестирования полупроводниковых устройств.
Программа семинаров
День 1. 26 июня 2013
- Измерения в СВЧ- и мм-диапазоне
- Моделирование вольт-амперных характеристик СВЧ-транзисторов в импульсном режиме
- Измерения характеристик устройств с переменным импедансом источника и нагрузки
- Теория и практика измерений Х-параметров
- Проектирование усилителя в САПР Advanced Design System на основе измеренных данных и модели
- Анализ устойчивости систем
- Измерение шумовых параметров
День 2. 27 июня 2013
- Измерения по постоянному току (до 10кВ/1500А)
- Обзор решений Agilent Technologies для параметрического тестирования
- Расширение возможностей Agilent EasyExpert (версия 5.5), экспорт данных в .mdm формат
- Новые измерительные возможности B1500A
- Расширение измерительных возможностей B1505A до 10кВ/1500А (тестирование IGBT, SiC, GaN)
- Новая серия источников/измерителей с ультранизкими фазовыми шумами Agilent B2960A
- Новые возможности системы Agilent 4080 для тестирования на производстве
- Новые возможности IV-/CV-измерений на пластине с помощью зондовых станций
Для участия в семинаре необходимо зарегистрироваться. Подробная информация на сайте или по телефону +7 (495) 797-39-28.